2024년도 첨단화학산업 기술개발지원 역량 강화 사업 공고

울산지역 첨단 정밀・바이오화학산업 기업들의 기술개발 경쟁력 확보를 위한 시험분석 (물성, 화학조성, 미세구조, 결함분석 등), 기술상담 등 기업지원 사업을 아래와 같이 공고하오니 신청하여 주시기 바랍니다.

2024년 07월 22일

한국화학연구원장

1. 지원프로그램 및 내용

지원유형	프로그램명	지원내용	지원건수
분석 지원	지역 내 미래 첨단 정밀・바이오화학소재 개발을 위한 통합 분석 솔루션 지원	․ 미래 첨단 정밀・바이오화학소재기업의 통합 분석 솔루션 지원을 통한 역량 강화 및 제품고급화 ․ 울산지역 유망기업들(중소・중견)의 집중 분석지원으로 스타 기업 육성을 위한 디딤돌 확보 ․ 탄소중립, ESG 경영 확대에 따른 탄소 저감·친환경 소재 개발을 위한 분석지원 ․ 개발 제품의 기능향상, 성능향상을 통한 분석지원 ․ 제품 공정 단 애로기술 해결을 위한 QC/QA 분석지원	기업 분석지원 신청서 의뢰 및 접수를 통한 선착순 지원

2. 신청자격

○ 업  종 : 울산지역 내에 본사 또는 사업장을 소재한 정밀화학·첨단화학신소재 중소·중견기업

3. 지원 방법

분석신청서 작성 → 분석 상담 → 시험분석 지원 → 결과 제공 및 피드백

4. 지원기업 선정기준

○ 시험분석 신청서 기반 신청기업의 참여제한 검토 후 시험분석기술 상담

○ 기술상담 이후 분석지원 여부 판단 및 선정

5. 분석지원 절차

절 차		주 체		주요역할 및 추진내용
⇩
지원기업 공고		한국화학연구원		분석지원 공고 (홈페이지, 유・무선 등)
⇩
기업 신청		지원기업		기업 분석지원 신청서 의뢰 및 접수 신청서 기반 선착순 지원
⇩
참여제한 요건 검토		한국화학연구원		수혜기업 참여제한 요건 검토
⇩
① 분석기술 상담		한국화학연구원		재료물성, 화학조성, 미세구조 등 분석 의뢰서 기반 지원 가능 검토 시험분석 및 애로기술 상담
⇩
② 시험분석 지원		한국화학연구원		- 한국화학연구원 분석장비 활용 시험분석 지원 - 지원기업 맞춤형 분석지원
⇩
③ 결과 제공 및 피드백		한국화학연구원		시험분석 결과 및 데이터 제공 결과 피드백 및 토의
⇩
지원 이력 관리		한국화학연구원		시험분석지원 이력 관리 및 안내 독점 방지를 위한 상한선 금액 이상 지원 불가

○ (분석지원 접수 간략도)

- 한국화학연구원 홈페이지 공지사항 참고(www.krict.re.kr)

신청절차		온・오프라인 접수 (주관기관 사업담당자)
준비서류		시험분석 신청서, 사업자 등록증, 중소・중견기업 확인서, 개인정보 이용 동의서 등
방법		온・오프라인 접수

6. 유의사항

○ 지원기준

- 신청기업의 참여제한에 대한 검토 후 분석지원 지원신청서 기반 시험분석 가능 여부 판단

※ 분석 독점 방지를 위해 상한선 금액 이상 지원 불가

○ 다음의 경우는 지원에서 제외함

- 국가 및 울산광역시 연구개발사업에 참여 중인 자가 마감일 현재 보고서 제출, 기술료 납부 등 의무사항을 불이행하고 있는 경우

- 국가 및 울산광역시 연구개발사업에 참여 제한 중인 자 또는 기관 (기업)이 신청 또는 참여하는 경우

- 재무상태가 건전하지 못하여 R&D 수행이 곤란하다고 판단되는 경우

* 재무상태 불건전으로 인한 결격 판단 기준

① 기업의 부도

② 세무당국에 의하여 국세, 지방세 등의 체납처분을 받은 경우

③ 민사집행법에 기하여 채무불이행자명부에 등재되거나, 은행연합회 등 신용정보집중기관에 채무불이행자로 등록된 경우

④ 파산․회생절차․개인회생절차의 개시 신청이 이루어진 경우

⑤ 최근 회계연도 말 결산 기준 자본전액잠식

⑥ 외부감사 기업의 경우 최근 회계년도 말 결산감사 의견이 의견거절 또는 부적정

○ 제출된 서류는 일체 반환하지 않음

7. 문의사항 안내처

○ 한국화학연구원 화학산업기술지원센터 사업 담당

- 이메일 ibpark@krict.re.kr, 전화 052-241-6150, 팩스 052-241-6109

2024년 07월 22일

한국화학연구원장

시험․분석지원 LIST

구분	연구시설·장비명	용도
화학분석	- 300 MHz NMR - GC-MS - Pyro GC-MS - LC-MS - IC - HPLC - ICP-OES - ICP-MS - LC-QTOF-MS - 원소분석기(EA) - XRF - FT-IR - Raman - FT-NIR - UV-Vis - MALDI-TOF - GPC	구조 분석 성분 분석 성분 분석 성분 분석 성분 분석 성분 분석 극미량 분석 극미량 분석 극미량 분석 성분 분석 성분 분석 구조 분석 구조 분석 구조 분석 구조 분석 성분 분석 성분 분석
미세구조	- FE-SEM/EDS (전자현미경) - AFM (원자 힘 현미경) - 나노스크래치 AFM - WD-XRD - Zeta-Potential Analyzer - Particle Size Analyzer - Dispersion Stability Analyzer	표면형상 관찰 표/계면 분석 표/계면 분석 결정구조 해석 Zeta-Potential 분석 입자사이즈 분석 분산도 분석
재료평가	- UTM - BET System - DSC - TGA - TMA - DMA - Humidity Test Chamber - Thermal Shock Test Chamber - 유전율 측정기 - 회전식 점탄정 측정기 - 표면계면 부착물성 시험기 - 텍스쳐분석기 - 노광 경화장비 - 컴퍼짓 제조장비 - 색차계 - 고하중 DMA - 낙하충격 박리시험기 - 고점도 배합기 - 광조사 복합사이클 시험기	기계적물성 평가 표면적 분석 열특성 분석 열특성 분석 열특성 분석 열특성 분석 항온항습 분석 열특성 분석 유전율 분석 기계적물성 평가 기계적물성 평가 기계적물성 평가 기계적물성 평가 기계적물성 평가 기계적물성 평가 열특성 분석 기계적물성 평가 기계적물성 평가 부식 평가